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Analog signal generation for built-in-self-test of mixed-sig...

Analog signal generation for built-in-self-test of mixed-signal integrated circuits /

丛 书 名：The Kluwer international series in engineering and computer science

作     者：Roberts Gordon W. 

I S B N：(纸本) 0792395646 

出 版 社：Kluwer Academic Publishers 

出 版 年：1995年

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