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半导体器件建模与测试实验教程：基于华大九天器件建模与验证平台XModel
丛 书 名：电子信息·Ei精品 集成电路系列丛书 国产EDA系列教材
I S B N：(纸本) 9787121493713
出 版 社：电子工业出版社
出 版 年：2025年
页 数：213页页
主 题 词：半导体器件
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学]
摘 要：本书基于国产EDA软件EmpyreanXmodel器件模型提取工具，系统、全面地介绍硅基MOSFET和GaNHEMT的器件建模、测试分析和参数提取的设计和实验全流程。本书在简要介绍半导体器件的基本理论、测试结构和测试方案的基础上，详细阐述MOSFETBSIM模型和参数提取实验、Xmodel集成的数据图形化显示系统、MOSFET器件直流模型和射频模型的提取实验、基于ASM-HEMT模型的GaN功率器件和射频器件的模型参数提取实验等，以及半导体器件中常见的各种二阶效应(如短沟道效应、版图邻近效应、工艺角模型和温度特性等)非线性模型参数的提取和验证方法。
