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从北京市两次地名普查实施看测绘技术发展

On the Development of Surveying and Mapping Technology from the Implementation of two Geographical Names Censuses in Beijing

作     者:吴飞 WU Fei

作者机构:北京市测绘设计研究院北京100038 城市空间信息工程北京市重点实验室北京100038 

出 版 物:《北京测绘》 (Beijing Surveying and Mapping)

年 卷 期:2021年第35卷第2期

页      面:178-182页

学科分类:081603[工学-地图制图学与地理信息工程] 081802[工学-地球探测与信息技术] 07[理学] 08[工学] 070503[理学-地图学与地理信息系统] 0818[工学-地质资源与地质工程] 0705[理学-地理学] 0816[工学-测绘科学与技术] 

基  金:国家重点研发计划(2016YFF0201301) 

主  题:地名 地名普查 比较 测绘技术 

摘      要:地名是重要的地理信息和社会公共资源,与人们的生产生活息息相关,地名承载着国家和民族的历史、文化以及情感。为摸清地名家底,新中国成立以来在不同时期,我国开展了两次全国性地名普查工作。本文简要介绍了地名和测绘的渊源,阐述了跨越30年的北京市两次地名普查的时代背景和要求。通过测绘技术在两次地名普查实施中的应用,折射出30年来测绘地理信息技术由传统模拟测绘向数字化测绘、信息化测绘的发展变化。

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