超级电容器放电测试用电子负载

作     者：高云 姜学娟 周末 刘长红 龙龙 GAO Yun;JIANG Xue-juan;ZHOU Mo;LIU Chang-hong;LONG Long

作者机构：大连市产品质量监督检验所辽宁大连116021 

出 版 物：《电源技术》 (Chinese Journal of Power Sources)

年 卷 期：2013年第37卷第3期

页      面：410-412页

学科分类：080801[工学-电机与电器] 0808[工学-电气工程] 08[工学] 

主　　题：电子负载 恒流源 放电测试 超级电容器 功率MOSFET 

摘      要：设计了一个电子负载,用于超级电容器的放电测试,工作在定电流(CC)模式。主要分两部分:恒流源部分和逻辑控制部分。恒流源部分采用CMOS集成电路驱动的MOSFET设计,应用功率MOSFET工作在恒流区时,漏极电流不随着VDS的电压而变化的恒流特性。逻辑控制部分通过数字电路实现,由计数器控制恒流源单元导通或关断。电子负载电路设计简单,受温度影响小,可以对超级电容器特性进行测试,从而了解超级电容器的性能,更好地应用超级电容器。