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基于FPGA的存储内建自测试的研究
Research on Built-In Self-Test of Memory Based on FPGA作者机构：中国核动力研究设计院核反应堆系统设计技术重点实验室成都610213
出 版 物：《仪器仪表用户》 (Instrumentation)
年 卷 期：2021年第28卷第6期
页 面：53-57页
学科分类：08[工学] 0835[工学-软件工程] 0802[工学-机械工程] 080201[工学-机械制造及其自动化]
主 题：硬件描述语言 March SRAM MBIST FPGA
摘 要：本文以SRAM为研究对象,介绍了储存器中常见的几种故障类型以及测试方法。March算法能够对各种储存器常见故障进行检测,但有些故障(比如耦合故障中的字内故障和字间故障)是检测不出来的。通过对现有测试算法的优化,使储存器测试的故障覆盖率更高,并采用硬件描述语言,以FPGA为开发平台,以储存器内建自测试(Memory Build-In Self-Test,MBIST)的方式构建SRAM测试电路,并进行仿真验证。
