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内蒙古自治区呼和浩特市赛罕区大学西街235号 邮编: 010021
作者机构:中国工程物理研究院核物理与化学研究所四川绵阳621900
出 版 物:《原子能科学技术》 (Atomic Energy Science and Technology)
年 卷 期:2008年第42卷第12期
页 面:1077-1081页
核心收录:
学科分类:082704[工学-辐射防护及环境保护] 08[工学] 0827[工学-核科学与技术]
主 题:37Ar 内充气正比计数管 探测效率 壁效应 MCNP程序
摘 要:通过分析37Ar衰变产生的X射线和俄歇电子在内充气正比计数管灵敏体积中的逃逸及计数管在37Ar活度测量中的壁效应,得出X射线在正比计数管中的逃逸是产生壁效应的主要原因,提出了压力指数外推方法。使用MCNP模拟X射线和俄歇电子在内充气正比计数管中的输运,模拟结果与理论分析结论一致。比较模拟得出的壁效应值与实验测量的壁效应值可知,实验给出的壁效应值是可信的。本工作的研究结果为37Ar测量方法提供了理论支持。