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基于加速寿命试验的磁耦隔离器耐压寿命评价方法
Evaluation Method of Withstand Voltage Life of Magnetic Coupling Isolators Based on Accelerated Life Test作者机构：中国科学院自动化研究所北京100098 中央军委装备发展部军事代表局驻北京地区第二军事代表室北京100042
出 版 物：《电子与封装》 (Electronics & Packaging)
年 卷 期：2022年第22卷第10期
页 面：81-85页
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
摘 要：为解决磁耦隔离器耐压寿命评估的实际需求,开展了适用于磁耦隔离器的加速寿命试验与寿命评价。研究了影响磁耦隔离器耐压寿命的关键因素,分析了加速寿命试验的可行性与加速模型的选取。合理设计加速寿命试验方案中的应力类型、应力水平、截尾时间等,并按照设计的试验电路方案进行试验。利用采集到的试验数据,结合加速模型推导出电压-寿命之间的关系,实现磁耦隔离器耐压寿命的评估和可靠性评价。
