一种实现显微荧光寿命图的测量方法

作     者：林子扬 牛憨笨 郭宝平 屈军乐 彭文达 田劲东 LIN Zi-yang;NIU Han-ben;GUO Bao-ping;QU Jun-le;PENG Wen-da;TIAN Jing-dong

作者机构：深圳大学光电子学研究所光电子器件与系统教育部重点实验室深圳518060 

出 版 物：《光学技术》 (Optical Technique)

年 卷 期：2005年第31卷第3期

页      面：326-329页

核心收录：

学科分类：070207[理学-光学] 07[理学] 08[工学] 0803[工学-光学工程] 0702[理学-物理学] 

基　　金：国家自然科学基金重点项目(No.60138010) 

主　　题：荧光寿命 寿命测量 荧光标记 寿命图 

摘      要：将脉宽120fs、重复率76MHz激光引入激光扫描显微镜的激发光路,利用其扫描系统对荧光标记样品激发扫描,将激发出的荧光从荧光探测光路引入备用的外部探测口;在探测口接一快速光电倍增管,将光电倍增管的信号送给时间相关单光子计数器,获得时间相关的荧光强度图;最后通过计算机处理获得荧光寿命图。应用此系统对青色荧光蛋白(CFP)、黄色荧光蛋白(YFP)荧光寿命进行了测量,并应用CFP、YFP实现荧光共振能量转移的测量。通过实验看出利用已有的激光扫描显微镜,配合较先进的寿命测量方法,可以很好地实现显微荧光寿命图的测量。