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Atomic-Level Insights into the Radiation Damage and Recovery of β-Ga2O3 for High-performance Semiconductors

作     者：Huang, Hsien-Lien Chae, Christopher Johnson, Jared M. Senckowski, Alexander Sharma, Shivam Singisetti, Uttam Wong, Man Hoi Hwang, Jinwoo 

作者机构：Department of Materials Science and Engineering Ohio State University Columbus OH United States Department of Electrical and Computer Engineering University of Massachusetts Lowell Lowell MA United States Electrical Engineering Department University at Buffalo Buffalo NY United States 

出 版 物：《Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada》 (Microsc Microanal)

年 卷 期：2023年第29卷第1期

页      面：1472-1473页

学科分类：07[理学] 08[工学] 0804[工学-仪器科学与技术] 0703[理学-化学] 

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