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1.1:Invited Paper:A New Design Methodology of Highly Reliable TFT Based Integrated Circuits in Display Applications
作者机构：Key Laboratory of Microelectronic Devices & Integrated Technology Institute of Microelectronics Chinese Academy of Sciences Beijing China
出 版 物：《SID Symposium Digest of Technical Papers》
年 卷 期：2019年第50卷第S1期
学科分类：12[管理学] 1201[管理学-管理科学与工程(可授管理学、工学学位)] 08[工学]
主 题：design methodology TFT based integrated circuits high reliability evolutionary aging
