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Dopant Mapping of Partially Hydrogenated Vanadium Dioxide using the Energy Loss Near Edge Structure Technique

作     者：Pofelski, A. Deng, S. Yu, H. Park, T.J. Jia, H. Manna, S. Chan, M.K.Y. Sankaranarayanan, S K Rs Ramanathan, S. Zhu, Y. 

作者机构：Condensed Matter Physics and Materials Science Department Brookhaven National Laboratory Upton NY United States School of Materials Engineering Purdue University West Lafayette IN United States Center for Nanoscale Materials Argonne National Laboratory Lemont IL United States Department of Mechanical and Industrial Engineering University of Illinois Chicago IL United States Department of Electrical and Computer Engineering Rutgers State University of New Jersey Piscataway NJ United States 

出 版 物：《Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada》 (Microsc Microanal)

年 卷 期：2023年第29卷第1期

页      面：1667-1668页

学科分类：07[理学] 08[工学] 0804[工学-仪器科学与技术] 0703[理学-化学] 

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