Bi_2Sr_2CaCu_(2-x)Sn_xO_(8+δ)系列超导体的XRD和XPS研究

作     者：李旗 潘海斌 祝传刚 徐彭寿 周映雪 张新夷 LI QI;PAN HAI-BIN;ZHU CHUAN-GANG;XU PENG-SHOU;ZHOU YANG-XUE;ZHANG XIN-YI

作者机构：南京大学物理系固体微结构物理国家重点实验室南京210093 中国科学技术大学国家同步辐射实验室合肥230029 

出 版 物：《物理学报》 (Acta Physica Sinica)

年 卷 期：2000年第49卷第10期

页      面：2055-2058页

核心收录：

学科分类：080705[工学-制冷及低温工程] 080801[工学-电机与电器] 0808[工学-电气工程] 07[理学] 070205[理学-凝聚态物理] 08[工学] 0807[工学-动力工程及工程热物理] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学] 0702[理学-物理学] 

主　　题：铋系超导体 掺杂 超导电性 SRD XPS 

摘      要：实验研究了Bi2 Sr2 CaCu2 -xSnxO8+δ的X射线衍射 (XRD)和光电子能谱 (XPS) .实验发现随着掺杂 (Sn)量的增加 ,晶格参数a和c都有所变化 ,O1s和Cu2 p芯能级谱也发生了变化 .实验结果表明 :在低掺杂量时 ,Sn主要呈二价态 ;而在高掺杂浓度时呈四价态 ;掺Sn对超导电性的影响与其他元素的掺杂不同 .这些实验结果支持化学环境在高温超导样品的电子结构中起着重要作用的结论 .