基于二维微波成像的共形天线RCS提取方法

作     者：李南京 冯引良 胡楚锋 周杨 张麟兮 Li Nanjing;Feng Yinliang;Hu Chufeng;Zhou Yang;Zhang Linxi

作者机构：西北工业大学无人机特种技术重点实验室陕西西安710065 西北工业大学电子信息学院陕西西安710072 

出 版 物：《红外与激光工程》 (Infrared and Laser Engineering)

年 卷 期：2013年第42卷第7期

页      面：1945-1949页

核心收录：

学科分类：080904[工学-电磁场与微波技术] 0810[工学-信息与通信工程] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 081105[工学-导航、制导与控制] 081001[工学-通信与信息系统] 081002[工学-信号与信息处理] 0825[工学-航空宇航科学与技术] 0811[工学-控制科学与工程] 

基　　金：西北工业大学基础基金 

主　　题：微波成像 共形天线 波谱变换 雷达散射截面(RCS) 

摘      要：二维微波成像技术是一种有效诊断雷达目标散射点强度和空间分布的手段。机载共形天线因与机体表面成为一体,常规测试手段难以确定其RCS贡献。基于二维微波成像技术,分离和提取出了装机状态下共形天线的反射率分布,通过二维空间像与二维空间谱之间的波谱变换获得了共形天线的二维空间谱信息,经过直角坐标域至极坐标域的插值获得了对应频率和角度的散射信息,再对定标球进行同样的处理,最终标定出共形天线的RCS贡献。实验结果表明了该技术的有效性。