融合双层技术结构与综合特征评估的关键核心技术识别——以数控机床领域为例

作     者：高道斌 陈悦 韩盟 李志杰 张彪 Gao Daobin;Chen Yue;Han Meng;Li Zhijie;ZhangBiao

作者机构：大连理工大学科学学与科技管理研究所暨WISE实验室大连116024 山东理工大学信息管理学院淄博255049 中国科学院成都文献情报中心成都610299 

出 版 物：《情报杂志》 (Journal of Intelligence)

年 卷 期：2025年第44卷第2期

页      面：82-91页

核心收录：

学科分类：1205[管理学-图书情报与档案管理] 12[管理学] 120501[管理学-图书馆学] 120502[管理学-情报学] 

基　　金：教育部哲学社会科学研究重大课题攻关项目“基础研究领域颠覆性科研成果识别与我国基础研究能力提升研究”(编号:22JZD021)研究成果 

主　　题：关键核心技术 技术识别 专利数据 综合特征评估 双层技术结构 数控机床 

摘      要：[研究目的]提出一种融合双层技术结构与综合特征评估体系的关键核心技术识别方法,以丰富面向关键核心技术的识别体系与方法,为技术管理与决策工作提供切实、有效的方法支撑。[研究方法]在对关键核心技术概念与特征进行分析与梳理的基础上,通过构建技术子领域与技术主题重要性综合分析指标识别核心技术子领域-主题,实现对核心技术的双层次解析;构建融入累积投入性、领域通用性、市场与技术价值性的关键核心技术特征评估体系,进一步对核心技术子领域-主题是否为关键核心技术进行判别。以数控机床领域为例进行实证应用,同时从技术与政策角度对结果进行了分析与验证。[研究结果/结论]共识别我国数控机床领域关键核心技术7项,分别为B23Q-主轴控制技术、B23Q-自动化机械手技术等。综合分析结果表明,该文所提方法能够有效识别具备较高综合价值的关键核心技术,赋予识别结果更加客观的语义信息,具备较好可解释性,同时,兼顾反映技术通用性与投入性,能够较好折射关键核心技术本质特征。