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原位X射线衍射光谱技术在高熵假板钛矿陶瓷晶体结构解析中的应用

Application of in Situ X-Ray Diffraction Spectroscopy in Crystal Structure Analysis of High-Entropy Pseudobrookite Ceramics

作     者:马晓晖 刘家臣 武劲宇 毛晶 胡小侠 郭安然 MA Xiao-hui;LIU Jia-chen;WU Jin-yu;MAO Jing;HU Xiao-xia;GUO An-ran

作者机构:天津大学材料科学与工程学院天津300350 天津大学分析测试中心天津300072 

出 版 物:《光谱学与光谱分析》 (Spectroscopy and Spectral Analysis)

年 卷 期:2025年第45卷第2期

页      面:443-447页

核心收录:

学科分类:07[理学] 070205[理学-凝聚态物理] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 0703[理学-化学] 0702[理学-物理学] 

基  金:国家自然科学基金项目(52172072)资助 

主  题:原位X射线衍射 高熵陶瓷 晶体结构 热膨胀系数 

摘      要:目前高熵陶瓷的研究主要集中在通过元素的改变或增加获得高性能陶瓷上,忽视了由于成分的复杂性而造成的高熵陶瓷晶体结构的变化及其对性能的影响。本研究基于原位XRD技术,系统研究了高熵(Mg,Co,Ni,Zn)Ti_(2)O_(5)形成过程、高熵化后晶体结构及热膨胀系数的变化。研究发现,随温度上升,反应物首先生成高熵中间相,最终在1400℃生成高熵(Mg,Co,Ni,Zn)Ti_(2)O_(5)陶瓷。与其单相相比,高熵(Mg,Co,Ni,Zn)Ti_(2)O_(5)晶格常数及热膨胀各向异性均发生变化。以上研究表明原位XRD技术可用于阐明高熵假板钛矿陶瓷形成过程中晶体结构演化及性能变化过程,并在高熵陶瓷晶体结构解析方面具有很大的应用前景。

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