应用Multisim研究不同结构二维PSD的线性度

作     者：戚巽骏 李侃 林斌 曹向群 陈钰清 Qi Xunjun;Li Kan;Lin Bin;Cao Xiangqun;Chen Yuqing

作者机构：浙江大学现代光学仪器国家重点实验室浙江大学国家光学仪器工程技术研究中心杭州310027 安徽师范大学物理与电子信息学院芜湖241000 浙江大学光电信息工程学系杭州310027 

出 版 物：《光子学报》 (Acta Photonica Sinica)

年 卷 期：2006年第35卷第10期

页      面：1518-1521页

核心收录：

学科分类：080901[工学-物理电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 0803[工学-光学工程] 

主　　题：位置敏感探测器 Multisim 非线性 位置误差 

摘      要：应用电路模拟软件Multisim对四边形结构、方形结构、直角形结构、双面结构位置敏感探测器的线性度进行仿真实验研究,得到了相应的线性网格图,并进行了分析.综合比较这几种不同结构二维位置敏感探测器的线性度.结果表明:四边形电极结构位置敏感探测器的位置误差最大,中央40%光敏区的位置误差约为10.05%,直角型电极结构位置敏感探测器,双面型电极结构位置敏感探测器以及带电阻边框的方形电极结构位置敏感探测器在相应区域的位置误差的误差分别为3.70%,0.29%,0.12%.对计算结果与试验结果进行了比较,表明该方法具有简单直观,参量变化多样性,结果可靠的优点.