作 者：丛开琪 张秦生
作者机构：1413所 红星机械厂
出 版 物：《微纳电子技术》 (Micronanoelectronic Technology)
年 卷 期：1981年第3期
页 面：42-47页
主 题：射线管 透照 底片 管壳 工艺质量 射线理论 明暗度 高频大功率器件 无损探伤 无损检测 夹杂物
摘 要：本文一般地介绍了 x 射线无损探伤的原理和方法。较详细地讨论了它在高频大功率晶体管研制中的应用。通过实验说明了,在大功率器件的管壳结构设计及工艺质量、管芯片烧结等方面,x 射线无损探伤是一种科学的简单的分析和检查方法,也是管壳制造工艺质量筛选或抽验的方法之
