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内蒙古自治区呼和浩特市赛罕区大学西街235号 邮编: 010021
作者机构:中北大学电子测试国家重点实验室仪器科学与动态测试教育部重点实验室太原030051
出 版 物:《电子器件》 (Chinese Journal of Electron Devices)
年 卷 期:2016年第39卷第6期
页 面:1421-1424页
学科分类:0810[工学-信息与通信工程] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 080402[工学-测试计量技术及仪器] 0835[工学-软件工程] 081002[工学-信号与信息处理]
摘 要:介绍了一种高速同步存储系统的设计方案。系统使用NAND Flash构建片内存储阵列、同步管理技术和流水线的设计方案提高其存储速度。在Flash的同步模式下的读、写技术基础上,引入了片内Flash阵列管理方法,使整个Flash的存储速度有了大幅度的提高。同时针对Flash的坏块检测问题,引入了片外存储坏块地址的方法,提高了系统的坏快检测效率,保证系统的稳定性的同时,最大程度上提升了系统的性能。测试结果表明,该系统存储速度快、存储容量大、可靠性高。