高通滤波器尺寸对粒子离轴滤波全息像的影响

作     者：张连永 徐青 曹娜 曹亮 李斌康 刘运牙 雷岚 Zhang Lianyong;Xu Qing;Cao Na;Cao Liang;Li Binkang;Liu Yunya;Lei Lan

作者机构：湘潭大学材料科学与工程学院湖南湘潭411100 西北核技术研究所强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室陕西西安710000 

出 版 物：《激光与光电子学进展》 (Laser & Optoelectronics Progress)

年 卷 期：2017年第54卷第6期

页      面：91-97页

核心收录：

学科分类：070207[理学-光学] 07[理学] 08[工学] 0803[工学-光学工程] 0702[理学-物理学] 

主　　题：全息 离轴全息 高通滤波器 解析 粒子 

摘      要：粒子场离轴滤波全息技术是减少背景噪声影响、改善粒子场再现像质量的有效方法。滤波器尺寸与再现粒子像密切相关,合适的滤波器尺寸有利于粒子的识别和测量。解析分析了高通滤波器尺寸、4F系统前焦距及粒径对圆形粒子离轴滤波全息再现像强度分布的影响规律,数值模拟了不同尺寸的高通滤波器对相同粒径粒子全息再现像强度分布的影响,并开展了离轴滤波全息实验。研究结果表明,高通滤波器可以有效提高粒子图像的对比度;粒子尺寸不变时,滤波器尺寸越小或4F系统前焦距越大,再现粒子像强度分布越均匀,同时边界梯度越大;滤波器尺寸和4F系统前焦距恒定时,粒子越大,再现粒子像内部逐渐呈现明暗相间变化的圆环,同时粒子边界越来越清晰。