版权所有：内蒙古大学图书馆 技术提供：维普资讯• 智图
内蒙古自治区呼和浩特市赛罕区大学西街235号 邮编: 010021
串行反馈内置自测试设计的研究
SERIAL FEEDBACK BUILT-IN SELF-TEST SCHEME作者机构：北京大学计算机科学技术系
出 版 物：《计算机辅助设计与图形学学报》 (Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics)
年 卷 期：1994年第6卷第4期
页 面：296-301页
核心收录：
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
基 金：国家自然科学基金
摘 要：本文给出一种串行反馈内置自测试设计结构，分析了它的状态转移图的拓扑结构，并对若干电路做了模拟实验。研究表明：添加反馈线沟通测试图形生成和响应压缩部分，既能提高测试图形的随机性，又可以降低错误特征被漏检的可能性，从而提高故障覆盖率。
