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内蒙古自治区呼和浩特市赛罕区大学西街235号 邮编: 010021
作者机构:上海交通大学薄膜与微细技术教育部重点实验室微米纳米加工技术国家级重点实验室上海200240
出 版 物:《科学技术与工程》 (Science Technology and Engineering)
年 卷 期:2011年第11卷第33期
页 面:8348-8352页
学科分类:080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学]
摘 要:针对一款高功率的Buck DC-DC的效率进行分析,把总的损耗分为上管和下管的导通及开关损耗,通过仿真及测试,分析影响效率的主要因素,并比较仿真与测试的主要差别。分析结果表明:影响效率的最主要因素依然是上下管的导通电阻,以及所使用的功率管的模型需要修正。