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基于光线追迹的集成成像技术重建分辨率研究
Study on Reconstruction Resolution of Integral Imaging Technique Based on Ray-Tracing Method作者机构：南开大学现代光学研究所光学信息技术科学教育部重点实验室天津300071
出 版 物：《中国激光》 (Chinese Journal of Lasers)
年 卷 期：2015年第42卷第11期
页 面：185-190页
核心收录：
基 金：国家自然科学基金(11474169) 天津市自然科学基金(15JCYBJC16900) 天津市高等学校科技发展基金(20140906)
摘 要：集成成像技术重建分辨率的表征方法对集成成像系统性能的优化及评价具有重要的意义。根据几何光学原理,考虑数字记录过程中的像素离散化影响,结合元素图像阵列中的同名像素相关性,对同名像素在像空间投影叠加实现三维信息重建的过程进行了深入分析,定义了集成成像技术像空间的横向和纵向分辨率,并研究了其沿轴分布特性。理论分析和实验结果均表明,集成成像技术的横向和纵向分辨率沿轴向呈现不均匀的分布特性。
