界面层对高强度聚焦超声所致焦斑的影响

作     者：李全义 卢涛 秦艳 李发琪 LI Quan-yi;LU Tao;QIN Yah;LI Fa-qi

作者机构：深圳武警边防医院广东深圳518000 重庆医科大学生物医学工程系重庆医科大学医学超声工程研究所重庆市-科技部共建医学超声工程重点实验室重庆400016 

出 版 物：《声学技术》 (Technical Acoustics)

年 卷 期：2011年第30卷第3期

页      面：237-240页

学科分类：07[理学] 08[工学] 070206[理学-声学] 0802[工学-机械工程] 0702[理学-物理学] 

基　　金：国家自然科学基金(30471653)资助项目 

主　　题：纳米磁性颗粒 界面层 焦斑 高强度聚焦超声(HIFU) 

摘      要：用纳米铁磁性颗粒胶合体制作界面层,用同一剂量高强度聚焦超声(HIFU)在该界面层下方不同深度定点辐照。结果显示:焦点上缘与声学界面重合时,HIFU所致焦斑/损伤点(lesion)的体积增大,说明声学界面能够提高治疗效率;当焦点距离界面层10mm时,焦点处HIFU所致焦斑/损伤点的大小和形态与对照组相似,而界面处出现另一较大的损伤点,此时界面对HIFU治疗的的安全性产生重大的影响;当焦点距离声波界面30mm时,焦点处HIFU所致焦斑/损伤点的大小和形态与对照组相似。随着界面层厚度的减小,治疗安全区域不断扩大,增效作用降低。