咨询与建议

看过本文的还看了

相关文献

该作者的其他文献

文献详情 >固态源跳频缺陷分析 收藏

固态源跳频缺陷分析

Analysis of Frequency Hopping in Solid State Source

作     者:高山 徐晟 GAO Shan;XU Sheng

作者机构:中国人民解放军海军驻上海地区航天系统军事代表室上海200233 上海无线电设备研究所上海200090 

出 版 物:《制导与引信》 (Guidance & Fuze)

年 卷 期:2014年第35卷第3期

页      面:47-50页

学科分类:080904[工学-电磁场与微波技术] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 

主  题:体效应管 固态源 跳频 

摘      要:通过分析体效应管内部高场畴的运动方式和具有负阻特性的电流-电压曲线,提出固态源跳频缺陷产生的原因,是由于固态源振荡回路中,跳频频率的电场强度占据主导地位,控制体效应管内部高场畴在由阴极向阳极渡越过程中半途猝灭,体效应管作为能量转换器件输出跳频频率。

读者评论 与其他读者分享你的观点

用户名:未登录
我的评分