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基于Windows CE的2M综合数字测试仪的设计与实现
Design and Realization of 2M Integrated Digital Tester Based on Windows CE作者机构：重庆邮电大学通信网与测试技术重点实验室四川重庆400065
出 版 物：《电脑知识与技术》 (Computer Knowledge and Technology)
年 卷 期：2009年第5卷第3X期
页 面：2273-2274页
学科分类：0810[工学-信息与通信工程] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 080402[工学-测试计量技术及仪器] 0835[工学-软件工程] 081002[工学-信号与信息处理]
主 题：比特误码率 比特误码率测试仪(BERT) 低功耗 Windows CE ARM
摘 要：基于ARM内核和Windows CE操作系统的2M综合数字测试仪可以对2M传输线路完成50b/s到2048kb/s速率的误码测试,可进行在线监测、离线监测、2M信号眼图测试,对数据进行详细分析,解决了误码统计和误码测试,以及误码率的计算等关键问题。这是一款体积小、重量轻、成本低、性能稳定的低速率误码测试仪。
