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内蒙古自治区呼和浩特市赛罕区大学西街235号 邮编: 010021
作者机构:华北水利水电大学信息工程学院河南郑州450046 华北水利水电大学数学与统计学院河南郑州450046 水利勘查设计研究院山东德州253014
出 版 物:《电子学报》 (Acta Electronica Sinica)
年 卷 期:2018年第46卷第11期
页 面:2768-2772页
核心收录:
学科分类:080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 080502[工学-材料学]
基 金:河南省科技公关项目(No.172102210367) 华北水利水电大学高层次人才科研启动项目(No.40436)
摘 要:基于泊松方程和边界条件,推导了对称三材料双栅应变硅金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET:metal oxide semiconductor field effect transistor)的表面势解析解.利用扩散-漂移理论,在亚阈值区电流密度方程的基础上,提出了亚阈值电流与亚阈值斜率二维解析模型.分析了沟道长度、功函数差、弛豫Si Ge层的Ge组份、栅介质层的介电常数、应变硅沟道层厚度、栅介质高k层厚度和沟道掺杂浓度等参数对亚阈值性能的影响,并对亚阈值性能改进进行了分析研究.研究结果为优化器件参数提供了有意义的指导.模型解析结果与DESSIS仿真结果吻合较好.