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FPGA的实时测试

Real-Time Testing of FPGAs

作     者:Joel Woodward 

作者机构:Agilent 

出 版 物:《电子产品世界》 (Electronic Engineering & Product World)

年 卷 期:2006年第13卷第03X期

页      面:73-74页

学科分类:080902[工学-电路与系统] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 

主  题:FPGA设计 实时测试 ASIC 设计者 数字产品 项目进度 开发 可测性 

摘      要:高速数字产品的设计者们面临着测试方面令人生畏的挑战.设计团队必须在严格的项目进度和有限的预算下设计出全新的功能和实现前所未有的品质.于是,FPGA正发挥着越来越重要的作用.ASIC的开发本身更为缓慢,仿真是其中心任务,保证ASIC第一次就能正常工作显得非常关键;快速的FPGA则与之不同,其开发以反复的系统内测试为中心.设计团队若使FPGA设计具有可测性的话,则可以削减数周、甚至数月的开发时间.

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