版权所有：内蒙古大学图书馆 技术提供：维普资讯• 智图
内蒙古自治区呼和浩特市赛罕区大学西街235号 邮编: 010021
斜采样技术的混叠分析及分辨率计算
The Aliasing Analysis and Resolution Calculation of Tilting Sampling System作者机构：南京理工大学计算机科学与技术学院江苏南京210094
出 版 物：《电子学报》 (Acta Electronica Sinica)
年 卷 期：2012年第40卷第5期
页 面：1067-1072页
核心收录：
学科分类：0810[工学-信息与通信工程] 08[工学] 081002[工学-信号与信息处理]
摘 要：斜采样技术通过将线阵探测器倾斜一定的角度并调节积分时间的方法,利用较低成本实现了探测器的亚像元成像.本文对单线阵斜采样及超模式斜采样方式的混叠及分辨率进行了研究.通过对采样方式在频域对偶网格的分析,建立了斜采样成像系统与混叠的关系,在有效分辨率的意义下,确定了混叠与噪声最小的最佳倒易晶胞,将错位的频谱恢复到了正确的位置,提高了分辨率.实验结果表明,通过最佳倒易晶胞去除混叠的斜采样技术有效地提高了线阵采样式光学遥感器图像分辨率.
