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2000年全国测试学术会议在京召开
出 版 物：《电子测试》 (Electronic Test)
年 卷 期：2000年第11期
页 面：210-210页
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
主 题：集成电路测试 学术年会 领域 学术会议 自动测试设备 故障诊断 故障检测 容错技术 VXI 软件测试
摘 要：2000年全国测试学术会议于2000年10月16日至2000年10月18日在北京装甲兵工程学院举行。此次学术会议将“全国测试与故障诊断会议、“第十届全国集成电路测试学术年会、“第五届中国国际VXI技术大会联合举行。全国测试与故障诊断会议,面向计算机专业领域,以计算机系统的测试与故障诊断为主要内容,研究可测试性设计、自动测试生成、故障诊断与定位、内部自测试、软件测试、软件可靠性及网络测试等等课题。
