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Linear and nonlinear characterization of low-stress high-confinement silicon-rich nitride waveguides: erratum

低压力的高监禁的充满硅的氮化物波导的线性、非线性的描述: 印刷或书写错误

作     者：Kruckel, Clemens J. Fulop, Attila Klintberg, Thomas Bengtsson, Jorgen Andrekson, Peter A. Torres-Company, Victor 

作者机构：Chalmers Dept Microtechnol & Nanosci Photon Lab SE-41296 Gothenburg Sweden 

出 版 物：《OPTICS EXPRESS》 (光学快报)

年 卷 期：2017年第25卷第7期

页      面：7443-7444页

核心收录：

学科分类：070207[理学-光学] 07[理学] 08[工学] 0803[工学-光学工程] 0702[理学-物理学] 

主　　题：Chemical vapor deposition Phase shift Silicon Silicon nitride Waveguides 

摘      要：We correct the value for the nonlinear Kerr effect of the silicon-rich nitride waveguide presented in Opt. Express 23, 25828 (2015). (C) 2017 Optical Society of America

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