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快速的平行码临界路径跟踪故障模拟
Fast Fault Simulation of Parallel Pattern Critical Path Tracing作者机构：中国科学院计算技术研究所CAD开放实验室 中国科学院计算技术研究所CAD开放实验室 北京
出 版 物：《装甲兵工程学院学报》 (Journal of Academy of Armored Force Engineering)
年 卷 期：1996年第10卷第3期
页 面：16-22页
学科分类：080902[工学-电路与系统] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
基 金：国家自然科学基金
主 题：故障模拟 平行码模拟 临界路径跟踪 扇出源 故障效应传播
摘 要：针对平行码临界路径跟踪故障模拟中最费时间的扇出源故障模拟,提出了若干加速技术。通过对电路结构进行的独立扇出分支、扇出源分类及扇出源的最终汇聚门等静态分析,结合对停止线及停止扇出源、测试码标记向量以及扇出源临界性确定前的预处理等动态计算,使得扇出源故障模拟区域及需要故障模拟的扇出源数目大大减少,极大地缩短了整个故障模拟时间。实验结果表明,平行码临界路径跟踪故障模拟算法,对少量和大批的随机码都非常有效,并且随着电路规模增加,其有效性更加明显。
