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基于Haar分类器和AAM算法的人脸基准点定位

Facial mark localization based on Haar classifier and AAM algorithm

作     者:程培培 陈典典 马军山 CHENG Peipei;CHEN Diandian;MA Junshan

作者机构:上海理工大学光电信息与计算机工程学院上海200093 

出 版 物:《光学仪器》 (Optical Instruments)

年 卷 期:2018年第40卷第6期

页      面:48-53页

学科分类:081203[工学-计算机应用技术] 08[工学] 0835[工学-软件工程] 0812[工学-计算机科学与技术(可授工学、理学学位)] 

主  题:Haar分类器 人脸检测 AAM算法 人脸基准点定位 

摘      要:人脸基准点定位可应用于人脸识别、疲劳检测等领域。针对人脸基准点定位中常用的主动表观模型(AAM)的局限性,提出了Haar分类器和AAM算法相结合的人脸基准点定位方法。先是计算图像积分图,然后采用基于Haar特征的AdaBoost级联检测器快速定位出人脸区域,最后将检测到的位置和图像信息传递给AAM进行人脸基准点定位。该方法在抽取的AFLW(annotated facial landmarks in the wild)人脸测试集上表现出良好的性能。实验结果表明,采用该方法能准确、快速定位出人脸基准点。

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