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问题描述：
T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）
AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)
范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016 范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016
作 者：盛克平 何宝林 杨伟浩
作者机构：上海市计量测试技术研究院 上海市计量测试技术研究院 上海200233
出 版 物：《电子显微学报》 (Journal of Chinese Electron Microscopy Society)
年 卷 期：2006年第S1期
页 面：298-299页
核心收录：
学科分类：08[工学] 0803[工学-光学工程]
主 题：透射电子显微镜 纳米测量 文件 放大倍率 标准物质 研究院 放大率 标准参考物质 计量标准样品 长度测量 纳米
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