SOC嵌入式数字IP核通用测试方法

作     者：马昕煜 徐瀚洋 王健 MA Xin-yu;XU Han-yang;WANG Jian

作者机构：复旦大学专用集成电路和系统国家重点实验室上海201203 

出 版 物：《微电子学与计算机》 (Microelectronics & Computer)

年 卷 期：2019年第36卷第2期

页      面：26-30页

学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 

基　　金：国家级军口项目资助(1067GK0064) 

主　　题：IEEE1500 IEEE1687 IP核测试 RAM 

摘      要：本文基于IEEE标准设计了一种通用的、低成本的嵌入式IP核测试方法.该方法通过仅重新定义待测IP的端口数量和名称,即可完成各种数字IP核测试电路设计以及集成,该方法支持IEEE1500标准中的所定义的全部11条通用指令所对应的工作模式,以此来提供丰富的IP核测试控制以及观测模式;测试软件兼容符合IEEE1687的测试数据,可做到无需修改测试图形文件即可自动完成测试、提取诊断信息.为了验证本方法的有效性,我们在FPGA上实现并测试了多种异构IP核和大量的同构IP核,在整个测试过程中,该测试方法在保证支持国际主流测试标准、具有较高的测试自动化程度的同时,利用其通用性简化了数字IP核的测试集成和复用过程.