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通路时延测试综述
A Survey on Path Delay Testing作者机构：中国科学院计算技术研究所信息网络实验室北京100080
出 版 物：《计算机工程与科学》 (Computer Engineering & Science)
年 卷 期：2002年第24卷第2期
页 面：80-83页
核心收录：
学科分类：080902[工学-电路与系统] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
基 金：国家自然科学基金重点资助项目 (6973 3 0 10 ) 计算所领域前沿青年基金 (2 0 0 162 10 18)
摘 要：本文对目前通路时延测试领域的主要研究成果进行了综述 ,阐述了主要的通路时延可测试性及相应的单通路时延故障的分类 。
