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利用随机拓扑方法分析系统级高功率微波效应
System-level high power microwave effects analyzed by stochastic topology approach作者机构：粒子技术与辐射成像教育部重点实验室(清华大学)北京100084 清华大学工程物理系北京100084
出 版 物：《强激光与粒子束》 (High Power Laser and Particle Beams)
年 卷 期：2015年第27卷第10期
页 面：221-224页
核心收录：
学科分类：0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
基 金：装备预研基金项目
主 题：电磁拓扑 随机耦合模型 随机拓扑方法 电磁敏感度 统计电磁学
摘 要：为研究高功率微波与复杂系统的耦合问题,提出了随机拓扑方法。该方法是一种新的系统级电磁敏感度分析预测方法,它结合电磁拓扑理论和随机耦合模型理论,可对包含多个腔体的复杂系统的短波电磁耦合问题进行统计分析。介绍了随机拓扑方法的理论基础,并利用计算机机箱搭建了双腔体和多腔体实验平台。使用该方法对目标位置处感应电压的统计分布进行了预测,并与其他方法得到的感应电压分布进行了比较,其结果基本一致,从而证明了该方法的可行性和准确性。
