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基于AT89C51的集成芯片测试仪设计
Design of test instrument for integration chip based on AT89C51作者机构：重庆邮电大学网络化控制与智能仪器仪表教育部重点实验室重庆400065
出 版 物：《数字通信》 (Digital Communications and Networks)
年 卷 期：2009年第36卷第4期
页 面：90-92页
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
基 金：重庆市自然科学基金项目(CSTC 2008BB2407) 重庆市高等教育教学改革项目(0834216 0824120) 重庆市教委科学技术研究项目(KJ080501)
摘 要：本系统以AT89C51为核心,由键盘、LCD1602显示、电源控制模块等组成,根据数字系统测试与可测性的原理以及集成芯片的真值表推导出测试程序,能完成对TTL74,54系列和CMOS4000,4500系列数字集成芯片的功能测试。
