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一种递推辨识算法

作     者:姚福来 吴圣雄 

作者机构:河北轻化工学院 中科院西安光机所 

出 版 物:《工业仪表与自动化装置》 (Industrial Instrumentation & Automation)

年 卷 期:1990年第4期

页      面:7-9页

学科分类:0711[理学-系统科学] 07[理学] 08[工学] 081101[工学-控制理论与控制工程] 0811[工学-控制科学与工程] 071102[理学-系统分析与集成] 081103[工学-系统工程] 

主  题:递推辨识算法 控制论 递推预报误差 

摘      要:根据最小二乘预报误差的变化规律,本文给出一种能在线同时辨识系统阶数和参数的递推算法——递推预报误差法。

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