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电路测试神经网络方法中求多个测试矢量
Generating Multiple Test Patterns in Digital Circuits Test Algorithm Based on Neural Networks作者机构：华南师范大学物理系广州510631 中山大学电子系广州510275
出 版 物：《微电子学与计算机》 (Microelectronics & Computer)
年 卷 期：2000年第17卷第3期
页 面：25-28页
学科分类：080902[工学-电路与系统] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
摘 要：文章研究在数字电路测试的神经网络方法中求给定故障对应的多个测试矢量的方法 ,首先提出了一种求多个测试矢量的遗传进化方法 ,然后提出了一种矢量扰动方法 ,通过这两者的结合使用 ,能获得被测电路较小的完备测试集 ,从而提高了电路测试神经网络方法的性能。
