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实用BiCMOS电路可测性设计
A Practical Technique of Design for Testability of BiCMOS Circuits作者机构：复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室
出 版 物：《微电子学》 (Microelectronics)
年 卷 期：1994年第24卷第6期
页 面：1-3页
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
摘 要：本文提出了ＢｉＣＭＯＳ电路的实用可测性设计方案，该方案与传统方法相比，可测性高，硬件花费小，仅需额外添加两个ＭＯＳ管和控制端，就可有效地用单个测试码测出ＢｉＣＭＯＳ电路的开路故障和短路故障，减少了测试生成时间，可广泛应用于集成电路设计中。
