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FD-MEI方法和变尺度优化技术应用于二维电磁成像
Application of FD MEI Method and Variable Metric Method to Electromagnetic Imaging作者机构：东南大学毫米波国家重点实验室
出 版 物：《电子学报》 (Acta Electronica Sinica)
年 卷 期：1999年第27卷第5期
页 面：22-24,42页
核心收录：
学科分类：080904[工学-电磁场与微波技术] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
基 金：国家杰出青年基金
摘 要：本文从电磁散射的微分方程出发，利用不变性测试方法（ＭＥＩ方程）与有限差分法求解电磁散射问题，由等效原理与格林函数的渐近式求得远区散射场，以测量的散射场和计算的散射场偏差的平方为目标函数，通过共轭梯度法与变尺度优化法优化介质参数使目标函数达到最小值来重构散射体，导出了目标函数梯度的精确计算公式，最后给出了基于测量数据的反演结果．
