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用灰度值改进双曝光测量物体微小形变的方法
Improvement method of measuring object deformation by using double-exposure with gray-level作者机构：昆明理工大学理学院激光研究所昆明650093
出 版 物：《激光技术》 (Laser Technology)
年 卷 期：2011年第35卷第5期
页 面：626-628页
核心收录：
学科分类：070207[理学-光学] 07[理学] 08[工学] 0803[工学-光学工程] 0702[理学-物理学]
摘 要：数字全息是用数字的方式记录和处理全息图像,通常在使用双曝光法测量物体微小形变时,对于形变量接近入射波长一半的情况一般使用相移的方法,这种方法需要拍摄多幅全息图。为了简化过程,提出将灰度值和双曝光方法相结合测量物体的微小形变。该方法通过画出条纹图的灰度曲线,判断条纹级数,计算出物体形变量;只需拍摄两幅全息图。通过理论分析和实验验证,取得了满意的结果。结果表明,该方法在一定的范围内是可行的。
