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时序电路测试中敏化路径选择研究
A Sensitization Path Selecting Problem in Sequential Circuits Testing Generation作者机构：装甲兵工程学院计算机教研室北京100072
出 版 物：《装甲兵工程学院学报》 (Journal of Academy of Armored Force Engineering)
年 卷 期：1998年第12卷第3期
页 面：29-33页
学科分类：080902[工学-电路与系统] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
摘 要：时序电路测试产生过程中,在进行敏化路径选择时会遇到失败问题.本文针对迭代组合阵列模型测试中产生的这些问题进行了有益的探讨,并提出了改进的时序电路测试产生算法,使之更加完善.
