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CPLD芯片抗高g值冲击性能分析
ANALYSIS OF ANTI-MULTI-G-SHOCK CAPABILITY OF A CPLD CHIP作者机构：中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室太原030051
出 版 物：《振动与冲击》 (Journal of Vibration and Shock)
年 卷 期：2007年第26卷第1期
页 面：148-150页
核心收录：
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
基 金：武器装备预研基金项目(51847040104HT1401)
摘 要：利用Hopk inson杆对弹载加速度存储测试仪器电路模块常用的CPLD芯片,在未用环氧树脂胶灌封和不同方向(沿平行和垂直与冲击方向)灌封状态下进行了抗高g值冲击性能实验研究。结果表明:CPLD芯片具有很高的抗冲击性能,并且与冲击方向无关。在目前弹体侵彻各种目标时的加速度幅值范围内,CPLD芯片不会失效。
