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基于近红外和中红外光谱技术的小麦粉品质检测及掺杂鉴别方法
Determination of Wheat Flour Adulteration Based on Near- and Mid-Infrared Spectroscopy作者机构：北京工商大学计算机与信息工程学院北京100048
出 版 物：《食品科学》 (Food Science)
年 卷 期：2014年第35卷第12期
页 面：128-132页
核心收录：
学科分类：0832[工学-食品科学与工程（可授工学、农学学位）] 081704[工学-应用化学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 070302[理学-分析化学] 083202[工学-粮食、油脂及植物蛋白工程] 0703[理学-化学]
基 金：北京市教委科技计划重点项目(KZ201310011012)
主 题：小麦粉 近红外光谱 中红外光谱 偏最小二乘法 聚类分析
摘 要：针对国家标准法检测小麦粉品质的传统方法存在一定缺陷,提出基于近红外光谱和中红外光谱技术快速检测面粉的方法,并基于偏最小二乘法建立了矫正模型,对小麦粉的灰分、水分、面筋品质指标进行了分析。对于小麦粉的掺杂鉴别问题,基于标准法测光谱距离建立了聚类分析模型,结果表明,可实现对小麦面粉品质的快速检测及掺杂鉴别。
