应用于高密度存储的偏光全息技术研究进展

作     者：魏然 臧金亮 刘颖 范凤兰 黄志云 朱莉莉 谭小地 Wei Ran;Zang Jinliang;Liu Ying;Fan Fenglan;Huang Zhiyun;Zhu Lili;Tan Xiaodi

作者机构：北京理工大学光电学院光电成像技术与系统教育部重点实验室北京100081 福建师范大学光电与信息工程学院信息光子学研究中心福建福州350117 

出 版 物：《光电工程》 (Opto-Electronic Engineering)

年 卷 期：2019年第46卷第3期

页      面：33-41页

核心收录：

学科分类：070207[理学-光学] 07[理学] 08[工学] 0803[工学-光学工程] 081201[工学-计算机系统结构] 0702[理学-物理学] 0812[工学-计算机科学与技术（可授工学、理学学位）] 

基　　金：国家自然科学基金项目(61475079 61675020) 中国博士后科学基金项目(2017M620635) 

主　　题：光学数据存储 全息存储 偏光全息 张量理论 

摘      要：偏光全息术通过记录两束偏振光干涉形成的偏振光栅,可以把偏振光信息存储在偏振敏感材料当中。偏光全息把传统全息术中长期被忽视的光波偏振信息加以利用,在加大了存储容量的同时,也具有了许多独特的性质。本文简要介绍了偏光全息的发展历程,描述了基于张量的偏光全息理论及其一些推论,然后对偏光全息在数据存储领域的应用作了介绍,并做出展望。