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实验室常用集成电路芯片功能验证软件平台的设计

Design of integrated circuit chip tester

作     者:杨燕姣 李泽明 张会新 Yang Yanjiao;Li Zeming;Zhang Huixin

作者机构:中北大学电子测试国家重点实验室山西太原030051 中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室山西太原030051 

出 版 物:《计算机测量与控制》 (Computer Measurement &Control)

年 卷 期:2013年第21卷第8期

页      面:2271-2273页

学科分类:08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 081102[工学-检测技术与自动化装置] 0811[工学-控制科学与工程] 

基  金:国家自然科学基金项目(61076111) 

主  题:FT245 FPGA VB上位机 功能测试 

摘      要:采用VB编写上位机软件,利用FPGA芯片来做硬件控制器,设计出了一种基于FPGA和软件/硬件联动配置技术的集成电路芯片功能验证测试装置,实现对实验室常用集成电路芯片功能好坏测试并作出评估;该装置实现了同一插槽测试不同芯片和集成电路测试台上最多达二个芯片同时测试的功能;该装置已成功地用于包括TTL74138、IDT7206、DS26C31等多个实验室常用集成电路芯片的功能测试。

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