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内蒙古自治区呼和浩特市赛罕区大学西街235号 邮编: 010021
作者机构:清华大学精密仪器与机械学系摩擦学国家重点实验室北京100084 清华大学物理系北京100084 北京大学化学与分子工程学院北京100871
出 版 物:《清华大学学报(自然科学版)》 (Journal of Tsinghua University(Science and Technology))
年 卷 期:2003年第43卷第11期
页 面:1483-1486页
核心收录:
学科分类:07[理学] 070205[理学-凝聚态物理] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 0702[理学-物理学]
基 金:国家自然科学基金资助项目(50135040 50173001) 教育部博士点基金资助项目(2000000339)
摘 要:为了充分掌握纳米操纵中的微观摩擦规律,消除微观摩擦对纳米操纵的不利影响,该文利用原子力显微镜(AFM)的超微探针作为操纵工具,对具有优异力学和电学特性的碳纳米管在不同的表面状况下进行了剪切和操纵。实验中发现,当基底的表面成分和表面形貌不同的时候,操纵过程中的微观摩擦力会有明显的变化。从与光刻技术相结合的操纵实验中可以看出,光刻后残留的光刻胶会大大增加碳纳米管与基底间的微观摩擦力,并加剧操纵工具——AFM针尖的污染与磨损。