介质参数对吸收体电磁散射影响的研究

作     者：潘顺康 吕善伟 周沁 冯克明 PAN Shun-kang;LV Shan-wei;ZHOU QIN;FENG Ke-ming

作者机构：桂林电子工业学院广西桂林541004 北京航空航天大学电子信息工程学院北京100083 北京无线电计量测试研究所北京100039 

出 版 物：《宇航计测技术》 (Journal of Astronautic Metrology and Measurement)

年 卷 期：2007年第27卷第5期

页      面：37-40,44页

学科分类：080801[工学-电机与电器] 0808[工学-电气工程] 08[工学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学] 

主　　题：矩量法 雷达散射截面 电磁散射 有耗介质散射 

摘      要：二维周期渐变微波吸收体由金属基体和涂敷有耗介质构成。有耗介质的厚度、介电常数和磁导率是影响吸收体电磁散射特性的主要因素,因此有必要分析这些参数对吸收体电磁散射特性的影响。根据吸收体的二维周期性结构特点,把分析介质参数对吸收体雷达散射截面(RCS)的影响简化成分析介质参数对涂敷导体二面角RCS的影响。利用矩量法给出涂敷导体二面角的RCS随介质参数变化的计算例子,并结合天线阵列技术算出最佳介质厚度时吸收体的RCS。