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某型固体继电器储存性能退化规律研究
Study of Storage Performance Degeneration Rules of Solid State Relay作者机构：空军驻无锡地区军事代表室江苏无锡214063 信息产业部电子五所可靠性与环境工程中心广州510610
出 版 物：《装备环境工程》 (Equipment Environmental Engineering)
年 卷 期：2009年第6卷第6期
页 面：39-41页
学科分类：080801[工学-电机与电器] 0808[工学-电气工程] 08[工学] 081101[工学-控制理论与控制工程] 0811[工学-控制科学与工程] 081102[工学-检测技术与自动化装置]
主 题：固体继电器 储存试验 性能参数 退化 T-检验 F-检验
摘 要：选用某型固体继电器在A、B、C、D等4地开展了为期131个月的库房储存试验,跟踪测试了其性能参数。应用F-检验和T-检验对其性能参数的测试数据进行了分析研究,结果表明储存131个月后,输入电流和输出接通电阻在4地有显著性的变化。通过研究4地试验样品性能参数的退化量,结果表明所有性能参数中输出接通电阻的退化量最大;4地相比,C地试验样品的输出接通电阻的退化量是最大的,A地试验样品的输出接通电阻的退化量是最小的。因此,A地最适合该型固体继电器的储存。
